マルチダイ光集積回路(PIC)プローブ装置 画像

Multi-die PIC Probe Tester

マルチダイ光集積回路(PIC)プローブ装置

型番
OPAL-xx
製品カテゴリ
メーカ

製品概要

The OPAL-MD station is part of the OPAL family of test stations dedicated to PIC testing, offering different performance, capability and throughput levels.

特長

Work Area:
50x50/100x100/Φ300mm
Coupling Mode:
Surface&Edge Coupling
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