非接触抵抗マッピングシステム 画像

Contactless Resistivity Mapping System

非接触抵抗マッピングシステム

型番
EU-p-ut-SCAN
製品カテゴリ
メーカ

製品概要

The EU-r-mt SCAN is a high performance instrument for the characterization of high resistivity semiconductor wafers. It operates without any physical contact with the wafer and no deposited conductive layer on it.
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