RFプローブ校正基盤 画像

RF Probe Calibration Substrate

RFプローブ校正基盤

型番
TCS70
製品カテゴリ
メーカ

製品概要

TCS70 is a calibration substrate with short, open, load, and thru (SOLT) standards that are designed for S-parameter calibrations and TDR impedance validations. This substrate allows engineers to perform probe-tip calibration and move the measurement reference point to the probe tips.

特長

  • Configuration: GND-Signal&Signal-GND
    Probe Pitch: 200um-1000um
    Frequency: DC-30GHz
    Substrate: Alumina
    Size: 17.3×9.4×0.6mm
製品カタログ(PDF) 製品について相談する