電子デバイス/半導体関連 | アイウェーヴ株式会社 - パート 3

電子デバイス/半導体関連

電子デバイス（126）

半導体関連（17）

半導体装置（6）

電子デバイス（126）

SAR受信信号処理ASIC

SAR受信信号処理ASIC

対放射線3チャネル104dB SINAD 3.2kSps Sigma-Delta ADC

対放射線3チャネル104dB SINAD 3.2kSps Sigma-Delta ADC

相関ラジオメータASIC

相関ラジオメータASIC

X- & Gamma線エネルギ/タイミング測定

X- & Gamma線エネルギ/タイミング測定

ポラリメータ分光計AISC

ポラリメータ分光計AISC

ASIC評価ボード

ASIC評価ボード

分光計用ASIC(3rd gen)

分光計用ASIC(3rd gen)

分光計用ASIC(2nd gen)

分光計用ASIC(2nd gen)

半導体関連（17）

MOCVD Epitaxy Technology

MOCVD Epitaxy Technology

MBE Epitaxy Technology

MBE Epitaxy Technology

銅汚染フリーシリコンウェハー

銅汚染フリーシリコンウェハー

CO-TAIC

CO-TBGU

CO-TMGU

BARCポリマー

BARCポリマー

Customized NV Diamond

Customized NV Diamond

半導体装置（6）

ウェハーレベルエッジカプリング装置

ウェハーレベルエッジカプリング装置

マルチダイ光集積回路(PIC)プローブ装置

マルチダイ光集積回路(PIC)プローブ装置

ウェハーボンディング装置

ウェハーボンディング装置

VCSEL製造用湿式酸化システム

VCSEL製造用湿式酸化システム

シングルダイ自動PICプローブ装置

シングルダイ自動PICプローブ装置

Probe Station

Probe Station

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